Прямые микроскопы

Микроскоп Eclipse LV100ND

Cерия универсальных микроскопов для исследований объектов методами светлого поля, темного поля, ДИК,...

Микроскоп Eclipse LV150

серия промышленных микроскопов для исследований образцов в отраженном свете с помощью методов светло...

Микроскоп L200N/L300N

Серия микроскопов для контроля качества полупроводниковых пластин и фотошаблонов размерами до 200 см...