JCM-6000Plus NeoScope

JCM-6000Plus NeoScope

Растровый электронный микроскоп JCM-6000Plus NeoScopeTM.

Обновленная модель настольного растрового (сканирующего) электронного микроскопа JCM-6000Plus NeoScope – продукт совместной разработки двух известных производственных корпораций Японии: Nikon и лидирующего производителя электронных микроскопов – компании Jeol.

За оригинальным дизайном этого устройства в настольном исполнении и при небольшом его весе скрывается мощный сканирующий прибор, покрывающий диапазон увеличения от 10x до 60 000x. JCM-6000Plus оснащен высокочувствительными полупроводниковыми детекторами, позволяющими получать комбинацию контрастной информации об образце и эффективного анализа. Опционально предусмотрено использование с микроскопом ЭДС спектрометра для выполнения элементного анализа.

В стандартной комплектации данная модель оснащена детекторами вторичных и отраженных электронов, позволяющими получать четкие изображения тонкой структуры поверхности образца при высоком увеличении, и способна работать в режимах высокого и низкого вакуума. Простота управления микроскопом делает возможным эффективное его использование операторами с любым уровнем подготовки.

Столик микроскопа позволяет не только перемещать образец по осям X и Y, но и наклонять или поворачивать его в камере микроскопа. Возможно исследование больших образцов до 70 мм высотой. Откачка камеры занимает не более трех минут и начинается сразу же после помещения в нее образца и закрытии дверцы камеры. Включение режима низкого вакуума происходит кнопкой, вынесенной на переднюю панель микроскопа.


Технические характеристики


Увеличение Во вторичных электронах:10 — 60,000x
  В обратно-рассеянных электронах:10 — 30,000x
Режимы работы Режим высокого вакуума /Режим низкого вакуума
Ускоряющее напряжение Во вторичных электронах: 3 ступени 5 кВ / 10 кВ/ 15 кВ
  В обратно-рассеянных электронах: 2 ступени 10 кВ / 15 кВ
Электронная пушка Небольшая пушка с встроенным катодом и венельтом
Линзы конденсера 2‑х ступенчатые электромагнитные зумирующие конденсорные линзы
Линзы объектива Электромагнитные линзы
Авто коррекция увеличения Увеличение скорректировано с рефференсным для высоты образца
Предустановленное увеличение 6 уровней, программируемое пользователем
Диапазон перемещения по осям Ручное перемещения по осям  X‑Y; X: 35 мм; Y: 35 мм
Максимальный размер образца Диаметр 70 мм, высота 50 мм
Рабочее расстояние по Z (WD) от 7 до 53 мм
Детектор сигнала Режим высокого вакуума (SE детектор, BSE детектор)
  Режим низкого вакуума (BSE детектор)
Отображаемые характеристики Ускоряющее напряжение, увеличение, шкала, размеры в мкм, etc.
Формат файла изображения BMP, TIFF, JPEG
Разрешение изображения 640x480 пикселей, 1280x960 пикселей
Режимы фотографирования Высокая скорость, низкая скорость 1, низкая скорость 2
Поворот Поворот растра (с шагом 90° или с шагом 1°)
Сдвиг изображения Управление сдвигом изображения
Сохранение изображения Автоматическое сохранение и нумерация сканированных изображений
Операционная система Windows 7
Автоматизированные функции Авто фокус, автостигматор
  Авто контрастность/яркость
  Автоматическая настройка положения осей
Модули микроскопа Базовый блок, блок питания, PC, LCD,форвакуумный насос
Управление Сенсорная панель,мышь
Допольнительные Аксессуары Моторизованная камера наклона/вращения образца
  Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (ЭДС)
Размеры 330 (Ш) x 490 (Г) x 430 (В) мм
Питание Однофазное, AC 100V (700VA), 220V (880 VA), 240V (960VA)
  Отклонения ±10% и ниже, требуется заземление 
Комнатная температура от 15°C до 30°C
Влажность не более 60%
Размеры основного модуля 325 мм (ширина) х 490 мм (глубина) х 430 мм (высота)

JCM-6000Plus NeoScope
JCM-6000Plus NeoScope
Обновленная модель настольного растрового (сканирующего) электронного микроскопа JCM-6000Plu...
JCM-7000 NeoScope
JCM-7000 NeoScope
Настольный сканирующий электронный микроскоп производства JEOL (Япония) серии JCM-7000 Neosc...

Возврат к списку