Настольный сканирующий электронный микроскоп производства JEOL (Япония) серии JCM-7000 Neoscope обладает усовершенствованными автоматическими функциями, автоматизация столика и программное обеспечение позволяют легко получать изображения образцов и проводить элементный анализ для пользователей всех уровней подготовки.
Оснащен большой камерой для образцов, режимами работы в высоком и низком вакууме, детекторами вторичного и обратного рассеяния электронов (SED и BSED), трехмерной визуализацией в реальном времени, простыми в использовании метрологическими инструментами и полностью интегрированным режимом EDS.
Увеличение прямое |
x10 – x100 000 Увеличение определяется для 128 мм х 96 мм. |
Отображаемое увеличение |
x24 – x202 168 Увеличение определяется для 280 мм х 210 мм. |
Режимы наблюдения |
Режим высокого вакуума: вторичные электроны, обратно-рассеянные электроны. Режим низкого вакуума: обратно-рассеянные электроны. |
Ускоряющее напряжение | 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ (три режима) |
Электронная пушка | Вольфрамовый катод/ встроенный цилиндр Венельта |
Предметный столик |
Моторизованное управление по осям X и Y Диапазон перемещений: X: 40 мм, Y: 40 мм |
Максимальный размер образца |
80 мм в диаметре 50 мм в высоту |
Механизм замены образцов | выдвижной механизм |
Разрешение изображений, Пкс |
540 x 480, 1280 x 960 2 560 x 1920, 5 120 x 3480 |
Автоматические функции | Настраивание, фокусировка, стигматор, яркость / контраст |
Формат файлов изображений | BMP, TIFF, JPEG, PNG |
Компьютер | Настольный ПК с ОС Windows®10 64 бит |
Дисплей | 24-дюймовый |
Вакуумная система |
Полностью автоматизирована: Турбомолекулярный насос 1 шт. Форвакуумный ротационный насос 1 шт |
Устанавливаемые приставки |
Энергодисперсионный спектрометр Моторизованный столик с наклоном и вращением Столик с нагревом и охлаждением образца Столик для механических испытаний образцов |
Габариты базового блока | 324мм (Ш) * 586мм (Г) * 566мм (В) |
Масса базового блока | 67 кг |