Cерия промышленных микроскопов для исследований образцов в отраженном свете с помощью методов светлого поля, темного поля, поляризации, дифференциально-интерференционного контраста (ДИК) и флуоресценции. Варианты с ручным LV150N и моторизованным LV150NA управлением, а также с использованием диодного осветителя LV150NL. Области применения: МЕМС, исследование полупроводников, индикаторных панелей, телекоммуникационных приборов, материаловедение и др.
Микроскоп Eclipse LV100ND
Cерия универсальных микроскопов для исследований объектов методами светлого поля, темного поля, ДИК,...
Микроскоп Eclipse LV150
серия промышленных микроскопов для исследований образцов в отраженном свете с помощью методов светло...
Микроскоп L200N/L300N
Серия микроскопов для контроля качества полупроводниковых пластин и фотошаблонов размерами до 200 см...