Cерия универсальных микроскопов для исследований объектов методами светлого поля, темного поля, ДИК, фазового контраста, флуоресценции в проходящем и отраженном свете, используемых для контроля качества и научных исследований. Варианты с ручным LV100ND и моторизованным LV100DA‑U управлением. Области применения:электроника, МЕМС, телекоммуникации, материаловедение, металлография, медицинское приборостроение и др.
Микроскоп Eclipse LV100ND
Cерия универсальных микроскопов для исследований объектов методами светлого поля, темного поля, ДИК,...
Микроскоп Eclipse LV150
серия промышленных микроскопов для исследований образцов в отраженном свете с помощью методов светло...
Микроскоп L200N/L300N
Серия микроскопов для контроля качества полупроводниковых пластин и фотошаблонов размерами до 200 см...