Стереомикроскоп SMZ1270i
Серия новых стереомикроскопов с широким диапазоном трансфокации от 12,7 до 1, оптикой с более высокой разрешающей способностью и улучшенной эргономикой. Благодаря новым апохроматическим объективам серии WF изображения достигается равномерная яркость изображения и широкое поле зрения образца даже на малых увеличениях. Модель SMZ1270i обладает функцией ‘интеллектуальной’ регистрации изображений для автоматического определения увеличений.
Возможно наблюдение в проходящем и отраженом свете. Держатель для 2‑х объективов обеспечивает плавное наблюдение в широком диапазоне увеличений. Возможна установка цифровых камер для получения изображений. Доступны разнообразные штативы и осветители под многообразные приложения.
Приложения
-Металлургия, Металлообработка
-Анализ чугуна, Размер зерна
-Анализ трещин и отказов
-Проверка поверхности
-Композиты, Ткани / Текстиль, Асбест
-Антенны, телескопическая оптика
-Оптоэлектроника
-Микроэлектроника, МЭМС,
-Телеком и электроника
-Мобильные телефоны, бритвы и часы
-Импланты / Протезы
Технические характеристики
| Оптическая система | Параллельная оптическая система трансфокации |
| Коэффициент трансфокации | 12.7:1 |
| Диапазон трансфокации | 0.63 – 8x (0.63/1/2/3/4/6/8x положения) |
| Общее увеличение | 3.15 – 480x × (в зависимости от окуляра и объективов) С коаксиальным эпископическим осветителем: 15 — 540x |
| Окулярный тубус | Наклон окулярного тубуса: 20° (P‑B бинокулярный тубус)/ 15° (Р‑TL100 Тринокулярный тубус)/ 0° ‑30° (Р‑TERG100, Р‑TERG50 тринокулярные наклонные тубусы) |
| Окуляры | с диоптрийной настройкой C‑W10xB (поле зрения 22 мм), C‑W15x (поле зрения 16 мм), C‑W20x (поле зрения 12.5 мм), C‑W30x (поле зрения 7 мм) |
| Объективы (Рабочее расстояние) | Plan Apo 0.5x/WF (82.5 мм), Plan Apo 0.75x/WF (107 мм), Plan Apo 1x/WF (70 мм), ED Plan 1.5x/WF (44 мм), ED Plan 2x/WF (35 мм) |
| Вес (прибл.) | 11,9 кг (Р‑TERG100 Тринокулярный наклонный тубус + P‑DSL32 LED Штатив диаскопического освещения) |
