NIKON
JCM-6000Plus NeoScope
Обновленная модель настольного растрового (сканирующего) электронного микроскопа JCM-6000Plu...
JCM-7000 NeoScope
Настольный сканирующий электронный микроскоп производства JEOL (Япония) серии JCM-7000 Neosc...
Измерительный микроскоп MM200
Новый компактный и лёгкий измерительный микроскоп, обладающий высокой точностью, прочностью и просто...
Измерительный микроскоп MM400/MM800
Серия измерительных микроскопов дает пользователям полный цифровой контроль для достижения максималь...
Микроскоп Eclipse LV100ND
Cерия универсальных микроскопов для исследований объектов методами светлого поля, темного поля, ДИК,...
Микроскоп Eclipse LV150
серия промышленных микроскопов для исследований образцов в отраженном свете с помощью методов светло...
Микроскоп Eclipse MA100N
Компактный настольный инвертированный металлографический микроскоп, разработанный для проведения рутинных...
Микроскоп Eclipse MA200
Инвертированный настольный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований...
Микроскоп L200N/L300N
Серия микроскопов для контроля качества полупроводниковых пластин и фотошаблонов размерами до 200 см...
Стереомикроскоп SMZ1270
Благодаря новым апохроматическим объективам серии WF изображения достигается равномерная яркость изображения...
Стереомикроскоп SMZ1270i
Серия новых стереомикроскопов с широким диапазоном трансфокации от 12,7 до 1, оптикой с более высоко...
Стереомикроскоп SMZ25/SMZ18
Области применения: материаловедение, МЭМС, оптоэлектроника, гемология, геология, телекоммуникации, ...
Стереомикроскоп SMZ745/745T
Экономичный тринокулярный стереомикроскоп по схеме Грену, обладающий наивысшим коэффициентом увеличения...
